::: reklama@pbprog.kz
::: editor@pbprog.kz
::: webmaster@pbprog.kz
От функционального тестирования к диагностике: как данные автоматизированных испытаний помогают выявлять скрытые дефекты электронных изделий
Доклад Татьяны Красик Татьяна, PhD, IEEE Senior Member, независимого исследователя, эксперта в области RF/microwave-измерений и автоматизированного тестирования