Конференция пройдет 22 октября в Москве
C докладом «От функционального тестирования к диагностике: как данные автоматизированных испытаний помогают выявлять скрытые дефекты электронных изделий» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники» 22 октября в Москве выступит Татьяна Красик, PhD, IEEE Senior Member, независимый исследователь, эксперт в области RF/microwave-измерений и автоматизированного тестирования, автор методики поверки, применяемой в национальной метрологической системе более 10 лет.
Доклад посвящён использованию данных автоматизированных функциональных испытаний не только для принятия решения «годен/не годен», но и для выявления скрытых и нестабильных дефектов электронных изделий. Будут рассмотрены подходы к анализу повторяющихся и пограничных результатов, выявлению отклонений в измеряемых параметрах и построению диагностических последовательностей, позволяющих быстрее локализовать причину неисправности. Отдельное внимание будет уделено практическим примерам из области RF/СВЧ-оборудования и способам сокращения времени диагностики без снижения достоверности испытаний.
Сайт конференции: https://b2bconf.ru/testing/