От функционального тестирования к диагностике: как данные автоматизированных испытаний помогают выявлять скрытые дефекты электронных изделий

Доклад Татьяны Красик Татьяна, PhD, IEEE Senior Member, независимого исследователя, эксперта в области RF/microwave-измерений и автоматизированного тестирования