::: reklama@pbprog.kz
::: editor@pbprog.kz
::: webmaster@pbprog.kz
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью…
В ЭК №№2–11, 2025 г., описаны методы и способы настройки изображений для видимого диапазона обнаружения дефектов,…