Доклад «Тестирование СВЧ элементов с малыми габаритными размерами (менее 3 мм)» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»

Конференция состоится 22 октября в Москве

С докладом  «Тестирование СВЧ элементов с малыми габаритными размерами (менее 3 мм)» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники» 22 октября в Москве выступит Петр  Черников,  руководитель участка параметрического контроля АО «ТЕСТПРИБОР» .

 Существуют универсальные контактирующие устройства для проверки ЭРИ с размерами меньше 3 мм. При этом для проверки СВЧ элементов они не подходят – наличие в них паразитных индуктивностей и емкостей сильно влияет на прохождение СВЧ сигнала. Что не позволяет корректно измерить S параметры. Цель доклада — ответить на вопрос, какие конструктивные элементы необходимо использовать для изготовления оснастки, чтобы законтактировать и проверить СВЧ элементы размером менее 3 мм. Были продуманы варианты контактирования малогабаритных ЭРИ. Была разработана и изготовлена оснастка, произведены удачные замеры СВЧ параметров. Доклад содержит эскизы и фото конструктивных элементов оснастки для проверки СВЧ ЭРИ с размерами менее 3 мм. 

Сайт конференции: https://b2bconf.ru/testing/ 

 

 

Российский рынок
Comments (0)
Add Comment