Конференция «Испытание и тестирование изделий электронной техники» состоится 22 октября 2026 года в Москве
Программа конференции сейчас формируется. Принять участие в конференции можно как в качестве слушателей, так и в качестве спикеров, предложив тему для выступления с экспертным докладом.
Основные темы конференции:
• Предиктивная диагностика
• Входной контроль
• Функциональные тесты
• Испытания на надежность
• Тестирование печатных плат
• Внутрисхемное тестирование
• Контроль качества, в т.ч. с помощью машинного зрения
• Климатические и механические испытания
• Испытание на радиационную стойкость
Для участия с экспертным докладом заполните заявку на доклад на сайте конференции, с Вами свяжутся представители Программного комитета мероприятия
Регистрация в качестве слушателей:
Оператор конференции: ООО «ИД «Электроника»