Конференция «Испытание и тестирование изделий электронной техники»

Программа конференции сейчас формируется. Принять участие в конференции можно как в качестве слушателей, так и в качестве спикеров, предложив тему для выступления с экспертным докладом.

Основные темы конференции:

•    Предиктивная диагностика

•    Входной контроль

•    Функциональные тесты

•    Испытания на надежность

•    Тестирование печатных плат

•    Внутрисхемное тестирование

•    Контроль качества, в т.ч. с помощью машинного зрения

•    Климатические и механические испытания

•    Испытание на радиационную стойкость

Для участия с экспертным докладом заполните заявку на доклад на сайте конференции, с Вами свяжутся представители Программного комитета мероприятия

Регистрация в качестве слушателей: