JEDEC представила первый в отрасли стандарт кремниевой фотоники JESD264

В начале октября JEDEC представила JESD264, устанавливающий квалификационные требования и требования к надежности устройств кремниевой фотоники (SiPh).

Ключевые характеристики JESD264, отмеченные ассоциацией, охватывают четыре области: комплексные протоколы надежности для SiPh-матриц и интегрированных наборов микросхем; рекомендации по квалификации компонентов, включая модуляторы, фотодиоды и волноводы; четкие требования к процессам сборки и лазерной интеграции; и ожидания в отношении контроля и отслеживаемости производственного процесса.

В отличие от зрелых КМОП-технологий, кремниевой фотонике не хватает стандартизированных отраслевых практик для квалификации и подтверждения надежности

В то время как традиционная квалификация КМОП в основном фокусируется на электрических характеристиках, материалах и долговечности корпуса, фотонные интегральные схемы (PICs) объединяют оптические волноводы, ответвители, разветвители, модуляторы, фотодетекторы и связанную с ними электронику. Таким образом, при одном электрическом тестировании могут отсутствовать сбои, связанные с оптикой, включая снижение мощности, изменения вносимых потерь, дрейф длины волны и несоосность соединения.

Эти проблемы с надежностью становятся еще более очевидными по мере увеличения масштабов интеграции. В корпусах CPO, 2,5D/3D-чиплетов и многокристальных модулях оптические компоненты, электронные кристаллы, подложки, волокна и лазеры размещаются во все более компактных корпусах, где тепловое расширение, деформация, дефекты соединения, оптической центровки и интерфейса могут усугубляться под воздействием температуры, влажности или механических нагрузок. Это делает проверку надежности все более сложной задачей на системном уровне.

Стандарт JESD264 призван устранить этот пробел. По данным JEDEC, JESD264 разработан как общая основа для проектировщиков микросхем, производителей полупроводниковых пластин, производителей оптических систем, модулей и разработчиков систем, обеспечивающая большую согласованность при аттестации кремниевых фотонных систем по мере их более широкого внедрения.